Dr. Kawano en collega's demonstreren met succes het neurale opnamevermogen van VLS-siliciumdraden ter grootte van een micrometer - 'Toyohashi-sonde' met behulp van het netvlies van een vis (zie figuur 1 en animatie).

Bij nanotechnologie is de zogenaamde damp-vloeistof-vaste stof (VLS) -methode wordt veel gebruikt voor het synthetiseren van een verscheidenheid aan eendimensionale draadstructuren, waaronder koolstofnanobuisjes, en metalen en halfgeleidende nanodraden voor het vervaardigen van nanodevices.

Hoewel de VLS-methode batchfabricage van out-of-plane verticaal uitgelijnde micro- en nanodraden mogelijk maakt, een potentieel krachtige apparaattoepassing voor het meten van multi-site elektrische neurale signalen moet nog worden gerealiseerd vanwege:(1) de onbeschikbaarheid van een apparaatproces voor het integreren van de driedimensionale draadarrays met actieve apparaten; (2) onvolkomenheden in de elektrische eigenschappen van de kleine draadjes die worden gebruikt als sondes voor het opnemen van elektrische neurale signalen; en (3) het ontbreken van een geschikt apparaatverpakkingsproces dat compatibel is met zoutoplossing.

Hier, Takeshi Kawano, Makoto Ishida en collega's van de Toyohashi University of Technology, Chukyo-universiteit, en RIKEN demonstreren met succes het neurale opnamevermogen van VLS-siliciumdraden ter grootte van een micrometer - 'Toyohashi Probe' met behulp van het netvlies van een vis (Fig.1 en Animatie).

De onderzoekers produceerden verticaal uitgelijnde microsonde-arrays op een siliciummicro-elektronicasubstraat door een selectieve VLS-groei van silicium gevolgd door microfabricageverwerking en apparaatverpakking. Voor daadwerkelijke metingen plaatste de groep het netvlies op de Toyohashi Probes. Deze apparaten hebben met succes neurale reacties gedetecteerd die representatief zijn voor lokale veldpotentialen van het netvlies (Fig. 2).

Toyohashi-sondes gemaakt door VLS-groei laten potentieel zien als krachtige apparaten voor een reeks neurale opnames vanwege de voordelige kleine afmetingen van de sondes en hun compatibiliteit met LSI-elektronica.