Door gebruik te maken van een fenomeen dat bekend staat als "kwantummechanisch knijpen, " Onderzoekers hebben conceptueel een nieuwe methode ontworpen voor het toepassen van atoomkrachtmicroscopie. Ali Passian van Oak Ridge National Laboratory en George Siopsis van de University of Tennessee introduceerden een nieuwe methode voor het maken van metingen in een paper gepubliceerd in Fysieke beoordeling A .

De techniek, die ze kwantum-atomaire krachtmicroscopie noemden, heeft de potentie om de resolutie van de AFM aanzienlijk te verhogen. De methode maakt gebruik van de fijne interacties tussen de sonde van de microscoop en het oppervlak van het monster om de "sweet spot" te vinden waar kwantumeffecten de sonde stabiliseren, wat resulteert in meer gevoelige metingen.

"Dat is de theoretische voorspelling van dit effect, ' zei Passian. 'Natuurlijk, de experimenten zullen het laatste woord hebben over hoeveel beter we kunnen doen, maar het basisconcept en de theorie zijn levensvatbaar."