Science >> Wetenschap >  >> Chemie

Waarom is de analyse van lichtelementen moeilijk met behulp van röntgenfluorescentie?

De analyse van lichtelementen met behulp van röntgenfluorescentie (XRF) is een uitdaging vanwege verschillende factoren:

1. Lage röntgenenergieën: Lichte elementen (elementen met lage atoomaantallen zoals B, C, N, O, F, enz.) Sturen röntgenfoto's uit met zeer lage energieën. Deze röntgenfoto's met weinig energie:

* worden gemakkelijk geabsorbeerd door het monster zelf: Dit fenomeen, bekend als zelfabsorptie, vermindert de intensiteit van de uitgezonden röntgenfoto's, waardoor ze moeilijk te detecteren zijn.

* zijn zeer gevoelig voor luchtabsorptie: Zelfs kleine hoeveelheden lucht tussen het monster en de detector kunnen deze röntgenfoto's met weinig energie aanzienlijk verzwakken.

* kan worden geabsorbeerd door het detectorvenster: Veel XRF-detectoren hebben een venster dat röntgenfoto's met lage energie uitvoert om de detector te beschermen. Dit vermindert het signaal verder van lichtelementen.

2. Lage fluorescentieopbrengsten: Lichte elementen hebben relatief lage fluorescentieopbrengsten, wat betekent dat slechts een kleine fractie van de geëxciteerde atomen daadwerkelijk röntgenfoto's uitzenden. Dit vermindert de algehele signaalintensiteit.

3. Interferentie van achtergrondstraling: De röntgenfoto's met weinig energie uit lichtelementen kunnen gemakkelijk worden gemaskeerd door achtergrondstraling, waardoor het moeilijk is om het signaal van ruis te scheiden.

4. Beperkte gevoeligheid van standaard XRF -instrumenten: De meeste standaard XRF -instrumenten zijn ontworpen voor de analyse van zwaardere elementen en zijn niet geoptimaliseerd voor de detectie van lichtelementen.

5. Matrixeffecten: De aanwezigheid van andere elementen in het monster kan de intensiteit van de uitgezonden röntgenfoto's van lichtelementen beïnvloeden, waardoor het moeilijk is om hun concentraties nauwkeurig te kwantificeren.

Het overwinnen van deze beperkingen:

Ondanks deze uitdagingen zijn er technieken die kunnen worden gebruikt om de analyse van lichtelementen te verbeteren met behulp van XRF:

* vacuüm of heliumsfeer: Het gebruik van een vacuüm of een heliumatmosfeer kan de luchtabsorptie van röntgenfoto's met lage energie minimaliseren.

* Speciale detectoren: Detectoren die speciaal zijn ontworpen voor röntgenfoto's met lage energie, zoals silicium drift-detectoren (SDD's), kunnen de gevoeligheid verbeteren.

* Speciale voorbeeldbereiding: Dunne monsters of speciale monsterhouders kunnen zelfabsorptie minimaliseren.

* Geavanceerde data -analysetechnieken: Geavanceerde algoritmen kunnen worden gebruikt om matrixeffecten en achtergrondstraling te compenseren.

Alternatieve technieken:

Andere analytische technieken, zoals:

* Microanalyse van elektronensonde (EPMA): Biedt een hogere gevoeligheid voor lichte elementen.

* röntgenfoto-elektronspectroscopie (XPS): Kan informatie verstrekken over de chemische staat van lichte elementen.

hebben vaak de voorkeur voor de analyse van lichtelementen wanneer XRF niet voldoende is.